高低溫試驗(yàn)箱是檢測(cè)電子電工產(chǎn)品、芯片光電產(chǎn)品、塑膠產(chǎn)品，高溫貯存性能與低溫開(kāi)裂性能的常見(jiàn)設(shè)備之一，在現(xiàn)在社會(huì)中的使用可謂是十分的廣泛了。其試驗(yàn)可設(shè)定程序循環(huán)試驗(yàn)，在試驗(yàn)進(jìn)行階段，如果出現(xiàn)試驗(yàn)循環(huán)失敗的原因有哪些？
原因一】在溫度循環(huán)試驗(yàn)中，高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)的氣流均勻度是一個(gè)很重要的參數(shù)，該參數(shù)將影響產(chǎn)品的溫度變化速率。這就要求在多個(gè)試驗(yàn)產(chǎn)品同時(shí)進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)產(chǎn)品之間、試驗(yàn)產(chǎn)品和試驗(yàn)箱壁之間應(yīng)有適當(dāng)?shù)拈g隔，以便氣流能在試驗(yàn)產(chǎn)品之間、試驗(yàn)產(chǎn)品和箱壁之間自由循環(huán)。
原因二】高低溫試驗(yàn)箱溫度循環(huán)應(yīng)力誘發(fā)失效的機(jī)理及敏感元件：溫度循環(huán)使不同膨脹系數(shù)的不同材料的膨脹情況不同，造成剝離、開(kāi)裂、其敏感元件如油漆涂覆層等。
原因三】溫度循環(huán)使螺絲連接或鉚接不牢的接頭松馳，其敏感元件如螺絲、鉚接部件等；
原因四】溫度循環(huán)使機(jī)械張力不足的壓配接頭松馳；高低溫濕熱試驗(yàn)箱溫度循環(huán)使材質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或誘發(fā)開(kāi)路，其敏感元件如電阻元件等
勤卓十年專業(yè)生產(chǎn)高低溫試驗(yàn)箱/高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱/高低溫快速溫變?cè)囼?yàn)箱/步入式高低溫老化房/氙燈老化試驗(yàn)箱等環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
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